从各研究机构研究的成果可以看出，环境温度和负载率对可靠性的影响很大，这两个方面对开关电源由于有很大的影响，所以下面将从这两个方面分析如何设计出高可靠的开关电源。其中，pD为使用功率；pR为额定功率。UD为使用电压；UR为额定电压。
1）环境温度对元器件的影响
表1～表3分别列出环境温度对半导体器件、电容器和电阻器可靠性的影响。表1和表13以pD/pR＝0.5使用负载设计，而表12则以UD/UR＝0.65使用负载设计。
表1环境温度对半导体器件可靠性的影响
由表1可知，当环境温度Ta从20℃新增到80℃时，半导体器件的失效率增大到30倍。
由表2可知，当环境温度Ta从20°C新增到80°C时，电容器的失效率增大到14倍。
表2环境温度对电容器可靠性的影响
从表3可知，当环境温度Ta从20℃新增到80℃时，电阻器的失效率增大到4倍。
表3环境温度对电阻器可靠性的影晌
2）负载率对元器件的影响
表4和表5分别列出了负载率对半导体器件、电阻可靠性的影响。
由表4可知，当pD/pR＝0.8时，半导体器件的失效率是pD/pR＝0.2时的1000倍。
表4负载率对半导体器件、电阻可靠性的影响（环境温度50°C）
从表5可知，当pD/pR＝0.8时，电阻器的失效率是pD/pR＝0.2时的8倍。
表5负载率对电阻器可靠性的影响
