芯片R5426在锂电中的使用和原理

2021-07-17      693 次浏览

如今便携式电子产品越来越受欢迎,其电池设备也成为关注的焦点,由于锂离子电池和聚合锂离子电池能量密度大、使用时间长、满足环保要求,已逐渐取代镍镉电池和镍氢电池,成为便携式设备的首选充电电池。理光锂电保护芯片R5426系列是为使用在便携设备(如蜂窝电话,PDA)的单节锂离子电池而设计的。


R5426系列是单节可充锂离子/聚合物电池的过充/放电/过电流保护芯片,它也包括一个短路电流保护器,防止外电路短路时的大电流。


R5426系列采用高耐压工艺制造,耐压不低于28V,封装为6-pin,SOT23-6或SON-6,具有低耗电,(供电电流典型值3.0uA,待机电流典型值0.1uA),高精度的测试器阀值,多种保护极限器阀值,内置输出延时,还有0V可充功能,具有过充保护后锁定功能.


每个IC有四个电压测试器,一个参考电路单元,一个延时电路,一个短路保护器,一个振荡器、计数器和一个逻辑电路组成。当充电电压或充电电流由小变大,超过这两者相应测试器(VD1、VD4)的阀值电平时,输出引脚Cout,即过充电保护测试器/VD1和充电过流测试器/VD4的输出电压经过内部相应延时就转为低电平。在过充或充电过流之后,电池组离开充电器并有负载连接到VDD,并当电池的电压降到过充测试值之下时,这两个相应测试器(VD1、VD4)被复位并且Cout的输出变为高电平。假如电池组仍在充电器上,即使电池的电压降到过充测试值之下时,过充保护状态仍不会解除。


DOUT脚为过放电测试器(VD2)和放电过流测试器(VD3)的输出脚。当放电电压由高向低,且低于过放电测试器的阀值电压VDET2,即低于VDET2时,DOUT脚在经过内部固定延时后就转低电平。


在测试到过放后,如将充电器与电池包相连接,并当电池供电电压高于过放电电压测试器的阀值电压时,VD2被释放并且DOUT变成“高电平。


内置过流/短路测试器VD3可以感应到放电过电流的状态,并经过内置的固定延时后,通过输出端DOUT变为低电平而切断放电;或测试到短路电流时使DOUT的值立即变低从而切断放电。一旦测试到过电流或短路后,可将电池组与负载分离,VD3被释放并且DOUT电平变为高。


另外,在测试到过放电后,芯片将暂停内部电路工作以维持在极低的耗电水平。通过将DS端设到与VDD相同的电平,能将以上保护延时(除短路保护)缩短。尤其是过充保护延时会缩短为1/90,因而探测保护电路的时间可缩短。而且,当DS端的电平设置在某一范围内,输出延时会取消,这样一来,过充和过充电流立即会被测试到。此时的延时约为不超过几十微秒。


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